[[Image:Atomic resolution Au100.JPG|250px|thumb|स्वच्छ [[सुवर्ण|स्वर्ण]] का प्रतिबिंब[[Miller index|(100)]]]]
आणुविक स्तर पर सतहों को देखने के लिये '''अवलोकन टनलिंग सूक्ष्मदर्शी यंत्र''' (STM) एक शक्तिशाली तकनीक है। सन १९८१ में इसके आविश्कार नें [[गर्ड बिन्निग]] और [[हैन्रिक रोह्रर]] ([[आई बी एम]] [[ज़्यूरिख़]]) कोने [[भौतिकी]]इसका मेंआविष्कार योगदानकिया केजिसके लिये सन १९८६ में इन्हे [[भौतिकी]] का [[नोबेल पुरस्कार]] दिलाया।दिया गया।<ref name="Binnig"> G. Binnig, H. Rohrer “अवलोकन टनलिंग सूक्ष्मदर्शी यंत्र” आई बी एम जर्नल ऑफ रिसर्च एन्ड डेवलपमेन्ट '''30''',4 (1986) पुनःप्रकाशित44पुनः प्रकाशित 44,½ Jan/Mar (2000)</ref> यह यंत्र टनलिंग धारा के मांपनमापन सेके आधार पर पदार्थ के [[अवस्था के घनत्व]] को परखता है। 0.1 [[नैनो]]मीटर की चौडाई और 0.01 नैनोमीटर की गहराई तक यह देख सकता है।<ref name="Bai">C. Bai ''अवलोकन टनलिंग सूक्ष्मदर्शी यंत्र और उसके प्रयोग'' Springer Verlag, 2nd edition, New York (1999)</ref>. यह यंत्र ना सिर्फ अति-निर्वात परिस्तिथियों में, परबल्कि खुली हवा में भी शून्यसेतथा सैकडोंशून्य [[केल्विन]] तापमानतकसे यहलेकर यंत्रकैइ सौ डिग्री केल्विन तापमान तक काम करता है।<ref name="Chen">C. Julian Chen ''अवलोकन टनलिंग सूक्ष्मदर्शी यंत्र पर भूमिका'(1993)</ref>.
यह [[सूक्ष्मदर्शी यंत्र]] [[प्रमात्रा टनलिंग|<span title="Quantum tunneling">प्रमात्रा टनलिंग</span>]] के सिद्धांतोंसिद्धांत पर आधारित है। किसी [[धातु]] या [[अर्धचालक भौतिकी|अर्धचालक]] की सतह के बहुत पास जब चालकता-पूर्णकिसी चालक नोक को लाया जाता है, तो इस निर्वात अन्तरअन्तराल में [[इलेक्ट्रॉन]] के बहनें के लिये एक सुरंग (या टनल) बन जाता है। निम्न वोल्टता में इलेक्ट्रॉन की धारा का व्यवहार [[फर्मी]] स्तर, ''E''<sub>f</sub>, पर नमूने के 'अवस्था के घनत्व' पर निर्भर करता है।<ref name="Chen"/>. इलेक्ट्रॉन धार के घटबढ़ से प्रतिबिंब बनाया जाता है।
अति-स्वच्छ सतहों और नुकीले नोकों की जरूरत इस तकनीक की कठिनाई है।
